由一個完全整合的系統控制全部的實驗

通過系統各個部分的完全整合，用戶可以通過一個界面控制全部的實驗。專門的應用向導快速和方便地提供可重復的實驗結果。高度的自動化，提供了新的記錄策略。在線SMD數據顯示和交互反饋，保證了數據質量的嚴密控制。

即時的光譜和壽命信息－結合了更強大的能力

結合SP8X與光譜FLIM檢測，構成了可調節的，無光學濾片的FLIM系統。通過可調節激發光和優化光譜范圍檢測，可以得到最高質量的FLIM數據。利用方便的SMD FLIM向導，可以自動獲得FLIM激發和檢測堆。這對于分離多色樣品的熒光分離以及新染料的特征描述是非常有用的。

快速的結果 － 更好的數據可靠性

在線顯示重要的統計控制參數，如相關曲線、快速FLIM圖像、計數率、分子亮度或最大分子計數數量，能在運行FCS或FLIM實驗過程中，連續評估數據質量。SMD數據可以在測量系列過程中就得到解釋。

在SMD檢測中具有最大靈活性

由于通用的SMD原始數據格式，同一個數據文件可以有不同的分析方法。根據硬件和實驗設計，相關和壽命信息可以從一個單獨的測量中提取出來，得到有關樣品的最大信息。FCS系統可以升級配備FLIM，反之也可以，可以達到最大靈活的的FLCS配置。